1、制定芯片的ATE詳細(xì)測試方案、軟件編程方案、硬件方案與設(shè)計。
2、根據(jù)質(zhì)量和進(jìn)度要求,基于ATE詳細(xì)測試方案,完成芯片CP/FT測試程序的開發(fā)和Online調(diào)試,并發(fā)布符合質(zhì)量要求的各程序版本。
3、負(fù)責(zé)芯片工程驗證相關(guān)問題定位和分析攻關(guān)。
4、協(xié)同PTE,完成量產(chǎn)導(dǎo)入,根據(jù)量產(chǎn)測試數(shù)據(jù)分析,完成測試方案優(yōu)化、良率提升和測試時間優(yōu)化工作。
要求:
1、具備芯片設(shè)計、應(yīng)用支持背景,測試裝備開發(fā)、硬件系統(tǒng)設(shè)計、IGBT、MOS、功率模塊開發(fā)經(jīng)驗者優(yōu)先。
2、具備功率器件測試機(jī)(泰瑞達(dá)ETS88/ACCO8200)開發(fā)經(jīng)驗優(yōu)先。